納米顆粒跟蹤分析儀（NTA）通過實時追送納米顆粒的布朗運動來獲取顆粒的大小和濃度信息。作為納米顆粒跟蹤分析技術(shù)（NTA）的發(fā)明者，馬爾文帕納科的NanoSight憑借在納米顆粒表征領(lǐng)域20余年的發(fā)展和創(chuàng)新，技術(shù)平臺不僅獲得了廣大用戶的認可和支持，也拓展了NTA廣泛的應(yīng)用范圍，如脂質(zhì)納米顆粒，細胞外囊泡，病毒和疫苗研究，納米氣泡和納米藥物載體研究等。這一點已經(jīng)得到了數(shù)萬篇科學論文的驗證和大量國內(nèi)外藥物研發(fā)企業(yè)的認同，確認了這種技術(shù)在研發(fā)領(lǐng)域的重要地位和價值。

NanoSight Pro納米顆粒跟蹤分析儀

結(jié)合專用熒光測試模塊，可用于多種熒光應(yīng)用，驗證和識別細胞外囊泡及其亞群。并可用于對具不同標志物的樣品進行驗證，從而更好的理解樣品的異質(zhì)性。

馬爾文帕納科近年新發(fā)布的納米顆粒跟蹤分析儀在上一代產(chǎn)品的基礎(chǔ)上做了多項軟件、硬件上的改進。全新一代的NanoSight Pro具備高靈敏度科研級sCMOS傳感器和20倍的高分辨率物鏡，即使是散射光較弱的顆粒，也能輕松捕獲其實時運動軌跡。在軟件方面，NTA儀器需要有強大的算法支持，以實現(xiàn)對視野內(nèi)多個顆粒運動的實時追蹤和軌跡標記，從而準確判斷與區(qū)分真實顆粒、噪音、背景及多核心的顆粒聚集體。NanoSight Pro的NS Xplorer由機器學習的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法提供算力支持，可以實現(xiàn)自動聚焦與測量，消除主觀性影響，并為光散射和熒光分析提供高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。

熒光樣品的分析，研究者經(jīng)常遇到的問題包括：熒光信號弱、光漂?(淬滅）、染料過量以及復雜體系中的熒光顆粒干擾等。結(jié)合硬件升級，NanoSight Pro開發(fā)了全新的熒光樣品測試模塊，可以對熒光顆粒樣品進?智能顆粒檢測、背景扣除等。同時，在NS Xplorer軟件中整合了專?的熒光測試模塊，這?模塊包括散射光和熒光測試的協(xié)同?作，在測試中同時給出散射光與熒光測試結(jié)果，并直接給出熒光顆粒的占???需?為計算。為解決熒光樣品淬滅現(xiàn)象的影響，該模塊會根據(jù)需要?動開閉激光器。通過10次的重復過程，不僅得到了統(tǒng)計學上有意義熒光數(shù)據(jù)信息，還很好的避免了熒光樣品信號被過早激發(fā)。

感興趣的客戶可以關(guān)注馬爾文帕納科公眾號獲取樣本了解更多技術(shù)細節(jié)。為響應(yīng)教育部設(shè)備更新政策，馬爾文帕納科提供線下體驗NanoSight Pro新機的機會，我們將帶著全新的NS Pro走進您的實驗室，讓您現(xiàn)場體驗新產(chǎn)品的智能、便捷與性能的提升。