對于含有非晶成分的樣品來說，XRD測試的目的往往不僅在于分析出各結(jié)晶物相的相對含量（即常規(guī)物相定量方法），還希望能夠得出非晶相在樣品中的含量，即結(jié)晶度分析，一般來說， “結(jié)晶度”主要指樣品中結(jié)晶部分的質(zhì)量占材料總質(zhì)量的百分比 ，即100% - 非晶物相百分含量。

值得注意的是與上述提到的結(jié)晶度含義不同，“結(jié)晶度”有時也用于量化或分級表征相關(guān)材料晶格周期性的理想程度，也就是結(jié)晶的完美程度、晶體結(jié)構(gòu)缺陷的類型與程度?；蛴?ldquo;有序度”來表述，這種情況下關(guān)心的不再是非晶物相的含量，而是結(jié)晶物相的結(jié)晶完美程度，此種意義上的“結(jié)晶度”可以用衍射峰半高寬等參數(shù)進行表征。比如伊利石的結(jié)晶度有時用Weaver指數(shù)來表征，其值為伊利石1nm的衍射峰在1nm處的強度與1.5nm處的強度的比值，指數(shù)越大結(jié)晶度越好。

我們將通過兩次推文分別介紹基于全倒易空間X射線散射守恒原理或Rietveld全譜圖擬合的定量計算方法這兩個通用原理指導(dǎo)下，馬爾文帕納科Highscore(Plus)軟件四種結(jié)晶度分析方法，這里的結(jié)晶度含義均指前者，即結(jié)晶部分的質(zhì)量在材料中的百分比。用戶可根據(jù)標樣情況、樣品特性、依據(jù)標準等不同情況選擇適合自己的結(jié)晶度分析方法。

對一個給定的原子集合體,則不論其凝聚態(tài)如何(如非晶固態(tài)、晶態(tài)、不同取向態(tài)或不同晶相與非晶相的混合態(tài)等)，當受到相同強度的X射線照射時，其相干散射在全倒易空間里總值保持守恒。換言之，樣品相干散射的總量僅與受照射體積內(nèi)物質(zhì)的原子種類與總數(shù)有關(guān)，與物質(zhì)的結(jié)構(gòu)無關(guān)。

下文中的第一、二種方法依據(jù)原理為上述全倒易空間X射線散射守恒原理，由于此原理的前提是給定的原子結(jié)合體（即化學(xué)組成相同）與x射線照射強度相同，因此下文中前兩種結(jié)晶度分析方法的適用前提均為結(jié)晶物相與非晶物相的化學(xué)組成必須相同，且結(jié)晶相與非晶相的測試條件完全一致。

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X'Pert3 MRD/XL適用于各類型薄膜的X射線分析，所涉及的典型材料有半導(dǎo)體、金屬合金、介電材料和化合物等。MRD/XL可以表征這些材料的如下屬性：層厚、晶相和合金成分、應(yīng)力、結(jié)晶度、密度和界面形態(tài)等等。