我們在上篇中介紹了給予全倒易空間X射線散射守恒原理的兩種計算結晶度的分析方法。下篇中，我們將講到另一種基本原理：Rietveld全譜擬合的定量計算，并介紹基于這種原理的另外兩種計算結晶度的分析方法。

在一個可能含有非晶樣品的混合物中，某物相i的含量絕對值可通過儀器常數(shù)K將物相含量計算統(tǒng)一到絕對尺度上的絕對定量方法進行計算，公式為：

Weighti [%] = Scalei * (ZMV)i * μsample / K

其中：

Scalei：混合物中第i種物相的標度因子；Z:物相i的每個晶胞中含有的化學式數(shù)；

M: 物相i的相對分子質量；

V：物相i的單個晶胞體積。

μsample：樣品的質量吸收系數(shù)；

K：儀器強度常數(shù)，這個常數(shù)只與當前的儀器狀態(tài)與測試條件有關

而常規(guī)的Rieveld全譜圖擬合無標定量分析中，定量計算采用不考慮非晶物相的存在，將所有結晶物相總和歸一化為100%進行計算的相對定量方法，計算公式為：

Weighti [%] = (Scale* ZMV)i /Σp(Scale * ZMV)p

下文中的第三、四種方法（內標法、外標法）均是基于Rietveld全譜圖擬合得到各物相的標度因子Scalei 并一句上述公式進行定量計算，通過內標物含量或儀器常數(shù)K得出各結晶相含量絕對值，最終由100%各結晶相含量綜合，得到非晶相含量，從而計算結晶度。

03丨內標法

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