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X射線熒光光譜儀 （XRF） 能夠?qū)Χ喾N材料進(jìn)行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 馬爾文帕納科X射線熒光光譜儀Zetium專為滿足要求嚴(yán)苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)，其高品質(zhì)的設(shè)計(jì)和功能，可對(duì)從鈹?shù)斤训榷喾N元素進(jìn)行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。
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